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    所有数字I/O仪器

    高速和静态3U和6U PXI和PCI数字I/O仪器。提供测试速率达到200MHz和可编程逻辑电平-10V至+15V，
    我们的数字产品是行业内性能最高和性价比最大的数字测试解决方案。
    PXIe 3U 新产品！

    GX3800e

    用户可编程，板载Altera Cyclone V GX FPGA。
    详细>>
    FPGA/FMC PXIe高性能数字I/O板卡
    PXIe 3U  

    GX5292e

    32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。
    详细>>
    动态控制，高速数字 I/O PXI Express 板卡
    PXI 3U  

    GX5290系列

    32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。
    详细>>
    动态控制，高速数字 I/O PXI板卡
    PXI 6U  

    GX5055

    50 MHz 动态数字仪器，每个引脚直接控制。详细>>
    动态控制，高速数字 I/O PXI板卡，带引脚电路
    PXI 6U  

    GX5960系列

    高电压引脚电路，带每通道可编程和 PMU 引脚。详细>>
    高性能50MHz动态数字 I/O PXI 子系统
    PXI 3U  

    GX5280系列

    32输入或输出通道。
    详细>>
    动态控制高速数字 I/O PXI 板卡
    PXI 3U  

    GX5295

    32输入/输出通道，动态可配置，基于每通道。详细>>
    动态数字 I/O含每通道可编程逻辑电平和 PMU的PXI 板卡
    PXI 3U  

    GX5296

    每引脚定时，多时间设置和柔性定序器。详细>>
    动态数字 I/O 含每通道定时，可编程逻辑电平和 PMU PXI 板卡
    PXI 3U  

    GX5641系列

    64双向转换通道或128数字 I/O通道 。
    详细>>
    双向差分-TTL I/O PXI 板卡
    PXI 3U  

    GX5642

    64双向TTL I/O和LVDS差分 I/O端口每通道。
    详细>>
    双向差分-TTL I/O PXI 板卡
    PXI 3U  

    GX5733

    3个32位LVTTL端口，用于总计 96 LVTTL输入或输出通道。
    详细>>
    128 通道数字 I/O 模块化 PXI 板卡
    PXI 3U  

    NX5300

    单个插槽，3U格式。
    详细>>
    JTAG/背景调试模式测试系统 PXI 板卡
    PXI 3U  

    TS-900系列

    基于 PXI 的集成半导体测试平台。详细>>
    PXI 半导体测试系统
    PXIe 3U/6U  

    NX5000系列

    支持全速操作被测对象（UUT），无需修改。详细>>
    ROM仿真 PXI 板卡
    PXI 6U  

    GX5050

    32双向 I/O 引脚（16板卡可菊形链接于总计512引脚）。详细>>
    动态控制高速数字 I/O PXI 板卡
    PXI 6U  

    GX5150系列

    50MHz 矢量运算率
    动态控制。详细>>
    高速数字 I/O PXI 板卡
    PXI 6U  

    GX5152系列

    32 输入或输出通道。
    详细>>
    数字激励反应 PXI 板卡 
    PXI 6U  

    GX5731

    4个32位 TTL 端口，用于总计128 TTL 输入或输出通道。详细>>
    224 通道数字 I/O 模块化 PXI 板卡
    PXI 6U  

    GX5732

    行业内最高密度的PXI数字I/O通道。详细>>
    224 TTL 通道，数字 I/O 含 4 计数器的 PXI 板卡
    PCI  

    GC5050

    32双向 I/O 引脚（16板卡可菊形连接于总计512引脚）
    详细>>
    动态控制高速数字 I/O PCI 板卡
       

    DIOEasy

    图形化矢量开发环境，适用于 GX5050、GX5150、GX5280、GX5290 和 GX5295 动态数字 I/O 产品。详细>>
    数字 I/O 矢量开发软件
       

    DIOEasy培训
    DIOEasy 培训（上门或来虹科）
       

    DIOEasy-FIT

    导入和转换 STIL 数字矢量（IEEE-1450，标准测试接口语言文件）为我们的数字矢量格式。详细>>
    文件导入工具用于导入和转换 STIL、WGL、VCD/EVCD 矢量
       

    DtifEasy系列

    从LASAR仿真导入、转换和执行 IEEE-1445 兼容 .tap 文件，配合使用我们的数字硬件和数字功能测试系统。详细>>
    LASAR Post 处理器、运行时间和诊断测试解决方案
       

    DtifEasy培训
    4天 DtifEasy 培训（包括 ATEasy）
       

    GC5910系列
    TTL I/O 模块用于 GC5050 板卡
       

    GC5930
    可编程电平 I/O 模块用于 GC5050 板卡
       

    GC5960
    LVDS I/O 模块用于 GC5050 板卡
       

    GT50-256K
    256K 存储器用于 GT50-DIO（以前 GT50-256K-12）
       

    GT5001
    1M 存储器模块用于 50 MHz 的测试
       

    GT5001-5
    1M 存储器模块用于 50 MHz 的测试
       

    GT5002
    2M 存储器模块用于 50 MHz 的测试
       

    GT5002-5
    2M 存储器模块用于 50 MHz 的测试
       

    GT5004-40
    4M 存储器模块用于 40 MHz 的测试
       

    GT5004-40-5
    4M 存储器模块用于 40 MHz 的测试
       

    GT5006
    256K 存储器模块用于 50 MHz 的测试
       

    GT5006-5
    256K 存储器模块用于 50 MHz 测试
       

    GT5910

    TTL应用。详细>>
    TTL I/O 模块用于 GT5xxx 板卡
       

    GT5920

    提高测试速度到 100 MHz。 详细>>
    100 MHz I/O 模块用于 GT515X & GT5900
       

    GT5930

    可编程电平和阈值含三态控制。
    详细>>
    可编程电平 I/O 模块用于 GT5xxx 板卡
       

    GT5940系列

    PECL 转 TTL 和 TTL 转 PECL 。
    详细>>
    PECL I/O 模块用于 GT515x 板卡
       

    GT5960
    LVDS I/O 模块用于 GT5xxx 板卡
       

    GtDio6x-FIT

    导入和转换 STIL 数字矢量（IEEE-1450，标准测试接口语言文件）为我们的数字矢量格式。详细>>
    文件导入工具用于导入和转换 STIL、WGL、 VCD/EVCD、ATP 矢量
       

    GX3501

    80 通道、TTL 缓存板用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>
    80 通道 TTL 缓存扩展板用于 GX3500
       

    GX3509

    80 通道，差分 TTL 缓存板用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>
    80 通道差分 TTL 扩展板用于 GX3500
       

    GX3510

    80 通道，mLVDS 扩展板卡用于 GX3500 FPGA 板卡。详细>>
    80 通道 mLVDS 缓存扩展板用于 GX3500
       

    GX3540

    40 输入/输出 ECL 通道。
    详细>>
    40 通道 ECL 扩展板用于 GX3500
       

    GX5001

    GX515x 存储器模块、1Mbx32、用于 50MHz测试。
    每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5001-5
    GX515x 存储器模块、1Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5002
    GX515x 存储器模块、2Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5002-5
    GX515x 存储器模块、2Mbx32、用于 50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5004-40
    GX515x 存储器模块、4Mbx32、用于 40MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5004-40-5
    GX515x 存储器模块、4Mbx32、用于 40MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5006
    GX515x 存储器模块、, 256Kbx32、用于 25/50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5006-5
    GX515x 存储器模块、256Kbx32、用于 25/50MHz 测试。每个 GX515x 使用 2-9 个模块
       

    GX5701

    32可编程输入。详细>>
    32 通道数字输入锁存器模块用于 GX5731/GX5733
       

    GX5702

    32 TTL输出。详细>>
    32 通道数字输出锁存器模块用于 GX5731/GX5733
       

    GX5704

    32 开路集电极，光耦合输出。详细>>
    32 通道数字功率输出锁存器模块用于GX5731/GX5733
       

    GX5709

    32 RS-422 (差分) I/O 通道。
    详细>>
    32 通道 RS-422 数字 I/O 模块用于GX5731/GX5733
       

    GX5711

    16 双向 LVDS 转 TTL 通道。
    详细>>
    16 通道 LVDS 转 TTL 转换器用于GX5731/GX5733
       

    GX5712

    16 通道双向 TTL 转 RS-422 转换器。详细>>
    16 通道 RS-422 转 TTL 双向转换器用于 GX5731/GX5733
       

    GX5910
    TTL I/O 模块
       

    GX5930
    可编程电平 I/O 模块
       

    GX5940
    PECL I/O 模块
       

    GX5960
    LVDS I/O 模块
    		 
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